ISP iEDX-750T Máy đo Xray
iEDX-750T
Specification
| Item | Details |
|---|---|
| X-ray tube | Mo/Rh/W/Ag Target(Option), 50kVp, 1mA |
| Detection System | FSDD (Fast silicon draft Detector) |
| Energy Resolution | Si type Detector(FSDD) 122eV FWHM at Mn Kα |
| Collimator | Poly capillary optics(Focal Spot 15um/30um) FWHM |
| Detection Element | Ti(22)~U(92) |
| Sample Type | Wide PCB |
| Equipment Size | 2600 X 1350 X 2050mm (WXDXH) 415X510mm PCB / 810X610mm PCB |
| Measurable PCB Size | 415X510mm610X510mm
810X610mm (W×D) |
| Utility |
Power : Single-Phase 220V, 4kw Air Pressure : 5kgf |
| Key Features |
Plating thickness measurement general, Rh, Pd, Au, Ag, Sn, Ni Film thickness measurement of multilayer thin films (up to 5 Layer) |
| Camera Magnification | 40~80 x |
| Safety device of Radioactivity | Cut-off device for an automatic 3 |
| Type of Report |
Excel, PDF / output Custom form |
| Key Benefits |
Film thickness measurement of multilayer thin films (up to 5 Layer) Convenient stage control Multi-Point measurement possible |
| Application |
ENIG, ENEPIG, HDI Electronic circuit board (PCB) The analysis of the exact content when measuring plating thickness |
Cần thêm thông tin hoặc tư vấn kỹ thuật?
Nếu Quý khách cần thêm thông tin chi tiết về sản phẩm, thông số kỹ thuật, ứng dụng thực tế hoặc yêu cầu mẫu thử, đội ngũ của chúng tôi luôn sẵn sàng hỗ trợ.
📞 Điện thoại: (024) 6687 2330
📧 Email: sale@pemax-mte.com
Hoặc gửi yêu cầu qua biểu mẫu liên hệ hoặc trao đổi trực tiếp qua hộp chat ở góc phải màn hình.